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工业物联网除了用于改善生产流程 也别忘了质量控管

信息时间:2017-04-21 信息来源:RFID世界网

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      制造业持续数据管理系统来评估和测试生产,工业物联网(IIoT)可以使用M2M(machine to machine)来追踪和管理工厂环境,这样的分析能力意味着更高程度的数据智能。

      Semiconductor Engineering报导,工业4.0会大幅影响制造业,而大多数的IIoT投资也聚焦于生产流程改善,较少着墨于产品质量的改善。但是在大数据分析的浪潮下,企业不应该忽视产品质量对企业获利的影响。

      无论什么产业,产品质量都可能冲击获利表现与公司的声誉。瑕疵品造成的报废材料成本与产品召回,都可能影响获利。在半导体与电子产业,制造过程的每个环节,都可能影响产品质量。

      企业内的数据量正快速增加,如果能够正确的存取和分析,可以为产品质量控制产生正面影响。其中一个例子,就是用某种装置的测试流程(包括测试者、测试计划信息、个别测试结果等)与另一款类似装置做配对,并进行关联分析。每项装置在生产过程中都会有不同的历程,而一般的流程分析并不会去分析这些信息。

      流程分析可以分别针对各个环节进行优化,而不是针对终端装置的整体功能质量进行优化。不过,使用整个企业的数据,加上大数据分析,可以强化产品分析,来追踪个别装置的多个面向,以提升产品质量,从来源一直到终端使用者进行优化。

      有效的分析,必须要能广泛、实时地搜集各种相关数据。也就是说,必须要能集结、整合各个不同厂区、各个供应链伙伴的复杂信息。许多半导体业者和电子公司已经成功地采用产品分析,从中找出有用数据,进行实时的产品质量控制,并提升获利。关键在于,必须要能适当地搜集数据,并产生行动方案。

      例如某款芯片与另一款芯片结合时,可能表现得非常优秀,但与另一款芯片结合却很糟糕;某种芯片可能适合某个客户系统,却不适合另一个客户系统。如果有了这些数据,就可以进行智能配对来提升系统表现。

      随着某款装置从芯片厂商转移到系统厂,然后一路到制造商与OEM业者,整个过程中的数据复杂度也跟着大幅增加。有了产品分析技术,这些信息可以很快地回溯,找出问题所在。随着IIoT进步,产品分析信息应该要与流程分析结合,以达到更进一步的工业自动化。


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