一、产品介绍
ITP KIM206003010/0.8 盘形测针主要用于配合三坐标测量仪等设备，对工件进行测量。其结构包括盘形测头、测杆等部分。盘形测头通常采用特定材料制成，具有一定的硬度和耐磨性，能在测量过程中保持形状稳定，确保测量点的准确性。测杆采用刚性合适的材料，如不锈钢或复合材料，以减少测量时因受力产生的变形，保证测量的稳定性。盘形测头的设计使其在测量平面、台阶面等部位时，能更好地与工件表面接触，适用于一些特定形状工件的测量场景。
二、功能特点
ITP KIM206003010/0.8 盘形测针的盘形测头设计，使其在测量平面类工件或具有台阶结构的工件时，能提供较大的接触面积，有助于提高测量的稳定性，减少因单点接触不稳定导致的测量误差。该测针的测头和测杆材料选择合理，具有一定的耐磨性，在长期使用过程中，能保持较好的性能，减少因磨损带来的测量偏差，延长使用周期。同时，其结构设计使其在测量一些特定结构，如环形槽、平面边缘等部位时，具有较好的可达性，能较为方便地接触到测量位置，满足不同工件的测量需求。
三、选型指南
选型时，需先明确测量工件的类型，如平面工件、带有台阶或槽类结构的工件等，根据工件的形状特点判断该盘形测针是否适用。其次，考虑测量设备的接口规格，确保该测针的连接部分与测量设备相匹配，避免出现安装不适配的情况。还要关注测针的尺寸参数，如盘形测头的直径、测杆长度等，需与测量工件的尺寸相适应，保证测针能顺利接触到测量部位，且不与工件其他部分发生干涉。另外，根据测量工件的材质，选择合适的测头材料，若工件材质较硬，应选择耐磨性更好的测头材料，以减少磨损对测量的影响。
四、技术参数
该测针的螺纹尺寸需与测量设备的接口匹配，常见的螺纹规格可参考同系列产品的通用标准。盘形测头的直径为 0.8mm，这一尺寸使其适用于较小尺寸的平面或槽类结构测量。测杆长度有特定的数值范围，不同的长度适配不同深度的测量场景，具体数值需参考产品实际参数。测杆直径根据设计有所不同，影响着测针的刚性和在狭窄空间的使用可能性，需结合测量需求选择。测头材料通常为特定的硬质材料，如陶瓷或合金，以保证其耐磨性和形状稳定性。
五、产品尺寸
ITP KIM206003010/0.8 盘形测针的整体尺寸由盘形测头直径、测杆长度和直径等部分组成。其中，盘形测头直径为 0.8mm，测杆长度和直径根据产品设计有具体数值。在安装使用前，需核对测针的整体尺寸与测量设备的安装空间、工件的测量区域尺寸是否匹配，确保测量过程中不会出现空间干涉，保证测量的顺利进行。
六、应用领域
在电子行业，可用于测量电路板上的平面区域、元器件的台阶高度等，如测量芯片封装的平面平整度、电路板边缘的台阶尺寸等，确保电子元件的安装和性能符合要求。在机械加工领域，适用于测量机械零件的平面度、台阶面的高度差、环形槽的宽度等参数，如测量轴承座的平面精度、齿轮的台阶尺寸等，保证机械零件的加工质量。在模具制造中，可用于测量模具的型腔平面、分型面的台阶等，确保模具的尺寸精度，满足后续产品成型的要求。此外，在医疗器械零件生产中，对于一些具有平面或台阶结构的精密零件，该测针也能发挥其测量作用，保障零件的尺寸符合设计标准。